Показать каталог
Цвет, материал, состояние поверхности… Серия LK-G5000 предлагает выбор головок, обеспечивающих стабильные измерения любых объектов
Для лазерных датчиков смещения необходима скорость, точность и способность обеспечения прекрасных эксплуатационных характеристик в любых применениях.
Чтобы стать лучшей в мире в каждом из аспектов, серия LK-G5000 изготовлена с применением последних передовых технологий.
Наивысшая повторяемость результатов в своем классе
0,005 мкм
Необходимость повышения качества продукции делает высокие эксплуатационные характеристики критически важными. Серия LK-G5000 обеспечивает наивысшую повторяемость результатов в своем классе и может эффективно использоваться в любых применениях.
Наивысшая точность в своем классе
± 0,02 %
Высокая линейность расширяет возможности датчиков LK-G5000. Используя преимущества новой технологии, эта серия обеспечивает высокую производительность при высокой точности измерений, что все чаще требуется в последнее время.
Наивысшая скорость измерения в мире
392 кГц
Наивысшая скорость дискретизации в мире позволяет измерять не только смещение движущихся или вращающихся объектов, но также повышает стабильность измерений во всевозможных применении.
Высокая точность была достигнута за счет удвоения ширины пикселя и удвоение числа пикселей в CMOS-элементе.
Оптическая система была модернизирована не только для увеличения ширины пятна луча, но и для поддержания небольшой высоты приемного элемента. Эта оптимальная геометрия пятна луча, в сочетании с заново спроектированным CMOS-элементом, используется для достижения беспрецедентной точности.
Недавно разработанный HDE-объектив сводит к минимуму эффект искажения пятна на фотодетекторе. Кроме того, благодаря технологии отсечения дельтаобразной области, поддерживается симметрия пятна луча и обеспечивается линейность полной шкалы 0,02 %.
Надежно отработанное ABLE-управление стало еще более эффективным. Система ABLE II интеллектуально оптимизирует способность RSCMOS к балансировке трех элементов лазерного излучения – времени излучения, мощности лазера и коэффициента усиления. Кроме того, система ABLE II обладает способностью к высокоскоростному отслеживанию, которое в восемь раз быстрее, чем у обычных моделей.
Просвечивающийся объект вызывает рассеянное отражение под поверхностью, когда лазерный луч проникает внутрь объекта и структура принимаемого светового потока слегка расширяется. Алгоритм RPD способен определять действительное пиковое значение, устраняя влияние расширенной структуры светового потока.
*RPD=Обнаружение действительного пикового значения
Оптимизирует интенсивность лазерного излучения путем обнаружения и корректировки отраженного от каждого слоя прозрачного объекта света. Высокая точность обеспечивается тем, что измерение не зависит от отражательной способности каждого слоя.
Поверхности, которые могут казаться плоскими, при увеличении часто содержат мельчайшие выступы и впадины. Эти микроскопические неровности поверхности часто могут приводить к ошибкам измерения при использовании обычных датчиков со сфокусированным пятном. С помощью сенсорной головки с широким пятном луча, влияние неровной поверхности усредняется и становятся возможными стабильные измерения, такие же как и для ровных объектов.
Благодаря современным цилиндрическим линзам, использующимся в серии LK-G5000, широкое пятно луча сохраняется во всем диапазоне измерений. Это позволяет обеспечивать однородность области усреднения, даже если объект перемещается ближе или дальше от сенсорной головки.
Наименьший диаметр пятна в своем классе, равный 25 мкм ø0.000984" (LK-H022) позволяет измерять любой объект, начиная с измерения мелких компонентов, до измерения профиля, с наивысшим в отрасли уровнем точности.
Оптическая система в этих специализированных головках была оптимизирована для обеспечения максимального возможного разрешения на объектах с высокой отражающей способностью. Благодаря улучшению функциональных возможностей приемного элемента, становятся возможными стабильные измерения зазоров, равных 20 мкм 0.000787".
Серия LK-G5000 включает группу головок, специально разработанных для использования с объектами, имеющими высокую отражающую способность, такими как стекло или другие зеркальные поверхности. Эти головки доступны с широкими или сфокусированными пятнами лучей и идеально подходят для высокоточных измерений подобных поверхностей.
Заполните небольшую форму и мы сэкономим вам время на подбор оборудования
